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Hitachi

株式会社 日立情報通信エンジニアリング

検証期間の短縮と論理品質の確保を実現

  • LSIやFPGAの論理回路の操作シナリオに合わせた乱数を利用してテストデータを生成
  • テストデータ生成・期待値生成・テスト結果比較判定を自動実行
  • 生成した大量のテストデータは、FPGAボードや実機での高速検証にも使用可能
主な対象
画像機器、通信機器、LSI開発メーカー
提供形態
ソフトウェア
価格
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導入効果

検証期間の短縮と検証コストの削減
人手による生成が困難な、複雑なテストケースや大量のテストデータを自動で生成・実行するため、検証期間を約30%短縮できます(当社比)。検証期間の短縮により検証コストの削減も可能です。
論理品質の確保
人手ではできないコーナーケースを狙った検証が網羅的にできるため、製品出荷後のフィールド不良を抑制することが可能です。社外事故抑止やマスク再生ゼロ化に貢献します。

主な特長

コーナーケースを狙ったテストケースの生成

コーナーケースを狙ったテストケースの生成のグラフ

人手による生成が難しいコーナーケースを狙ったテストケースを生成します。人手による的を絞った検証とInRTによる検証を併用することで、効率的に短期間で不良を摘出することが可能になります。

各種プラットフォームで実行可能

生成したテストデータは論理シミュレーション・アーリプロトタイピング・実ボード環境などの各検証プラットフォームで実行可能です。

商品ラインアップ

SoC(System on Chip)向け乱数利用テストデータ自動生成ツール

  • 高負荷SoC検証に対応
  • 競合動作を考慮したコーナケースの自動検証を実現
  • アサーション連動検証をサポート

SoC向け乱数利用テストデータ自動生成ツール

SoC:System on a chip

画像コア向け乱数利用テストデータ自動生成ツール

  • MPEG-2、MPEG-4、H.264に対応
  • 自然画、アニメーション、CGに対応
  • 個別仕様に応じてカスタマイズが可能

画像コア向け乱数利用テストデータ自動生成ツール

導入事例

FA機器事業者 A社 様

CPUコアおよび制御系コントローラ向け検証に適用

InRT適用により、テストデータ生成コストの削減と論理シミュレーション実施期間を短縮。

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